国磊PCB测试系统研发

    物联网终端设备爆发式增长，低功耗MCU、蓝牙SoC、NB-IoT芯片对静态功耗、待机电流、睡眠电流要求达到nA级，设备需要在芯片多种工作模式间快速切换并精细测量微安甚至纳安级电流。很多物联网芯片企业面临功耗测试难题：普通SMU模块小电流测量分辨率不足，nA级睡眠电流测量误差大，无法准确评估芯片低功耗性能；芯片在工作、睡眠、深度睡眠模式间快速切换，电流变化跨度达数个数量级，普通设备量程切换慢，无法捕捉瞬态电流波形；进口低功耗**测试设备价格昂贵。科普，物联网低功耗芯片测试主要在于"宽量程快速切换+nA级电流分辨率"，芯片不同工作模式电流差异可达6个数量级以上，设备必须支持自动量程快速切换，且**小量程分辨率达到nA级，才能准确测量深度睡眠电流，这直接决定物联网终端电池续航能力。杭州国磊半导体GI-SMUBV044路精密浮动±10V源测量模块，毫伏级电压、纳安级电流测量分辨率，极低本底噪声，专为低压低功耗芯片静态功耗、待机电流、睡眠电流测试设计，四路单独通道可同步对比多颗芯片功耗一致性。搭载于G97-S紧凑型桌面ATE，支持自动量程快速切换，可捕捉芯片模式切换瞬间的瞬态电流波形，完整绘制芯片功耗模式曲线。更换不同板卡。 面向 Chiplet、HBM 堆叠算力芯片，国磊 GT600 支持多通道时序校准，检测芯粒间信号抖动、电源耦合噪声。国磊PCB测试系统研发

    产线多型号设备混用，不同机器软件界面、操作逻辑不一样，工程师要记忆多套操作流程，培训周期长，人员轮岗容易发生误操作，增加产线管理压力。科普，一套成熟ATE产品，应当做到软件平台统一，不同硬件依托板卡区分能力，降低人员学习成本。杭州国磊半导体G97‑X300测试机，工程中批量ATE，和全系列机型共用同一套自研软件平台。通过更换不同测试板卡，适配驱动IC、电源芯片等多品类器件，完成CP、FT测试。工程师只需要掌握一套操作逻辑，就可以完成设备操作、程序编辑、数据导出，培训周期大幅缩短，轮岗上手更快。板卡拆装简单，换产调试效率高，降低人为误操作概率。本土备件库存充足，故障板卡直接替换，减少停机时间。帮助封测厂简化产线人员管理，提升产线运行稳定性，适配多品种柔性代工的业务模式。 南通CAF测试系统供应商国磊G97-X200高速并行测试能力，大幅提升量产吞吐效率。

    功率类芯片国产化进程加快，工业电源、新能源相关器件对ATE测试提出高压大电流的严苛要求。普通量产设备板卡耐压、载流能力不足，做功率芯片测试容易出现通道损坏，甚至损伤待测芯片。科普，功率芯片测试不能只依靠软件保护，板卡硬件层面必须具备耐压防护、硬件过压过流切断机制，硬件保护优先级高于软件，保障设备与芯片安全。杭州国磊半导体G97‑X600测试机，大产能量产ATE平台，支持选配高压大电流**测试板卡。更换对应板卡，即可适配高压功率IC、大功率电源管理芯片量产FT、CP测试。硬件内置多级防护机制，降低测试过程烧毁风险，同时兼顾普通模拟芯片测试需求。设备并行测试能力强，优化测试节拍，压缩单颗芯片测试时长，降低量产测试成本。支持对接探针台、高低温箱，满足车规、工业芯片全温区测试需求。本土交付与售后，助力功率芯片企业搭建稳定可控的国产量产测试产线。

    车规级ADC芯片对测试提出较高要求，宽温域下动态指标必须稳定，普通ATE板卡温漂大，高低温环境下SNR、THD波动明显，无法满足车规验证标准。科普，车规ADC测试，板卡元器件选型、温度补偿、屏蔽降噪缺一不可，微小温漂就会造成动态参数判定偏差。杭州国磊半导体G97‑ADC测试机，混合信号专项ATE，支持选配车规优化版信号板卡。更换**板卡，完成车规ADC芯片常温、高低温条件下INL、DNL、SNR、THD全套指标测试，对接高低温箱完成全温区验证。设备压低系统本底噪声，保障不同温度环境下测试结果可复现。既可以用于研发阶段车规芯片规格验证，也可以承接量产筛选。本土技术团队熟悉车规测试要求，提供方案支持，助力国内车规混合信号芯片企业解决测试卡点，推进车规产品国产化落地。 国磊G97-ADC全系统采用PXIE总线结构，数据处理带宽高，延时低，系统测试速度快。

洁净厂房租金昂贵，每一寸空间都产生成本，很多研发实验室场地有限，放不下多台大型 ATE 机柜。科普，紧凑型 ATE 的主要优势就是节省空间，依靠板卡模块化，小机身实现多芯片适配，不用多台机柜堆叠。杭州国磊半导体 G97‑S 测试机，桌面紧凑型 ATE，机身小巧，无需占用大量洁净室面积。通过更换不同测试板卡，完成电源芯片、驱动 IC、信号样品的研发测试工作。单台设备替代多台**测试仪器，节约宝贵厂房空间。主机投入可控，板卡按需选配，可以分步投入资金。本土售后提供调试支持，帮助研发工程师完成样品参数摸底、失效复现。对于场地紧张的研发中心，G97‑S 用小空间实现多品类芯片测试能力，兼顾性能、预算与场地约束。国磊G97-ADC 整机、板卡、软件全部自研，供货周期短、本地化技术服务。南京PCB测试系统现货直发

国磊模拟测试 ATE 采用全浮动源架构，消除地回路干扰，nA 级微弱电流测量精度，适配低功耗穿戴。国磊PCB测试系统研发

    工业机器人与新能源汽车产业带动电机驱动IC需求暴涨，多通道电机驱动、栅极驱动芯片***用于伺服电机、步进电机、BLDC无刷电机控制，测试比较大难点在于多通道信号同步性，通道时序偏差过大就无法还原芯片真实工况。很多驱动IC企业面临测试误判问题：普通数字IO板卡多路通道同步输出精度不足，通道间时序偏差达数十纳秒，导致PWM信号失真；驱动IC需要高低压混合测试，控制侧低压与功率侧高压同时测试，通用ATE通道隔离不足容易串扰；多通道驱动输出一致性测试需要大量模拟通道同步采集。科普，驱动IC测试板卡必须保障多路通道同步输出、同步采集，时序误差控制在极小范围，电机驱动对PWM死区时间、通道相位差要求较高，时序偏差过大就会导致上下桥臂直通等严重误判，必须使用硬件级同步触发机制。杭州国磊半导体G97-X300工程中批量ATE，可配置GI-RIOMS3264路高速LVDS数字IO板卡，硬件级星型触发与时钟同步，多通道纳秒级同步输出PWM控制信号；搭配GI-SMUHP01±100V高压SMU完成功率侧驱动输出测试，GI-SMUMV04四路±60VSMU同步采集多通道驱动输出一致性。更换对应板卡，即可完成多通道驱动IC、栅极驱动IC、三相电机驱动等多品类驱动器件测试。 国磊PCB测试系统研发