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深圳SIR测试系统行价

来源: 发布时间:2025年11月08日

高性能GPU的功耗管理直接影响系统稳定性与能效比。“风华3号”支持多级电源域与动态频率调节,要求测试平台具备高精度DC参数测量能力。国磊GT600测试机每通道集成PPMU,支持nA级静态电流(IDDQ)测量,可**识别GPU在待机、低功耗模式下的漏电异常。其可选配高精度浮动SMU板卡,支持-2.5V~7V电压范围与1A驱动能力,可用于DVFS电压切换测试、电源上电时序(PowerSequencing)验证及电源抑制比(PSRR)分析。GT-TMUHA04时间测量单元提供10ps分辨率,可精确测量GPU**唤醒延迟、中断响应时间与时钟同步偏差,确保AI训推与实时渲染任务的时序可靠性。国磊GT600SoC测试机每通道32/64/128M向量存储深度,支持复杂HBM协议Pattern的完整加载与执行。深圳SIR测试系统行价

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支持复杂测试向量导入,加速算法验证闭环 智能驾驶芯片的**价值在于其内置的AI推理引擎能否准确执行感知与决策算法。杭州国磊GT600支持从其他测试平台导入测试程序与向量,并兼容STDF、CSV、Excel等多种数据格式,便于将仿真环境中的算法测试用例直接转化为ATE(自动测试设备)可执行的测试向量。例如,可在GT600上加载真实道路场景下的图像识别或目标检测激励序列,验证NPU在极限负载下的响应正确性与时延表现,从而构建“算法—芯片—测试”一体化验证闭环。国产替代导电阳极丝测试系统定制价格国磊GT600可利用高速数字通道捕获时钟与控制信号;结合TMU测量状态切换延迟;来验证DVFS策略的有效性。

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“风华3号”**了国产GPU在架构创新与生态兼容上的重大突破,而其成功落地离不开从设计到量产的完整验证链支撑。国磊GT600测试机凭借高通道密度、高并行能力(512Sites)、混合信号支持与开放软件架构,已成为**GPU、AI计算芯片测试的关键基础设施。它支持GPIB/TTL接口与探针台、分选机联动,构建全自动CP/FT测试流程,**提升测试效率与一致性。在国产GPU迈向大模型、医疗、工业等**应用的进程中,国磊GT600测试机提供从功能、参数到可靠性的**测试保障,助力中国芯在图形与计算领域实现自主可控。

AI芯片在推理或训练突发负载下,电流可在微秒级剧烈波动,易引发电压塌陷(VoltageDroop)。国磊GT600SoC测试机支持高采样率动态电流监测,可捕获电源门控开启瞬间的浪涌电流(InrushCurrent)与工作过程中的瞬态功耗波形,帮助设计团队优化去耦电容布局与电源完整性(PI)设计。其128M向量响应存储深度支持长时间功耗行为记录,用于分析AI工作负载的能耗模式。现代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模块,引脚数常超2000。国磊GT600支持**2048个数字通道与400MHz测试速率,可完整覆盖AI芯片的I/O接口功能验证。其512Sites高并行测试架构**提升测试吞吐量,降低单颗芯片测试成本,满足AI服务器芯片大规模量产需求。
国磊GT600SoC测试机提供测试向量转换工具,支持从主流商用ATE平台迁移HBM相关测试程序,降低导入成本。

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环境应力测试兼容性,部分工业或车规级MEMS需在高低温、高湿等环境下工作。国磊(Guolei)GT600支持与温控探针台/分选机联动,通过GPIB/TTL接口实现自动化环境应力筛选(ESS)。其小型化、低功耗设计也便于集成到温箱内部,确保在-40℃~125℃范围内稳定运行,满足AEC-Q100等车规认证要求。国产替代保障MEMS产业链安全 中国是全球比较大的MEMS消费市场,但**MEMS芯片及测试设备长期依赖进口。国磊(Guolei)GT600作为国产高性能ATE,已在部分国内MEMS厂商中部署,用于替代Teradyne J750或Advantest T2000等平台。这不仅降低采购与维护成本,更避免因国际供应链波动影响产能,助力构建“MEMS设计—制造—封装—测试”全链条自主可控生态。虽然国磊SoC测试机不直接测试MEMS的机械结构(如谐振频率、Q值等需**激光多普勒或阻抗分析仪),但它精细覆盖了MEMS产品中占比70%以上的电子功能测试环节。随着MEMS向智能化、集成化、高精度方向发展,其配套SoC/ASIC的复杂度将持续提升,对测试设备的要求也将水涨船高。国磊(Guolei)GT600凭借高精度、高灵活性与国产化优势,正成为支撑中国MEMS产业高质量发展的关键测试基础设施。灵活的分组测试模式,可单独控制16通道为一组。国磊SIR测试系统行价

国磊GT600SoC测试机可通过GPIB/TTL接口同步探针台与分选机,实现HBM集成芯片的CP/FT自动化测试流程。深圳SIR测试系统行价

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