伴随AI大算力芯片、边缘智能设备的快速迭代,PMIC、LDO、DC-DC等电源管理芯片的动态稳定性、低功耗特性成为主要性能指标,国磊G97系列ATE凭借多通道同步高精度源载单元,成为AI电源芯片测试的主要装备。设备可精细模拟AI芯片训练、推理、待机等不同工作状态的动态负载波动,多角度测试电源芯片负载瞬态响应、输出纹波、电压调整率、负载调整率、静态漏电流、动态功耗等关键参数,精细捕捉微小功耗异常与电压漂移问题。同时支持过压、过流、过热、短路等保护阈值自动化测试,通用验证电源芯片的安全防护性能,规避AI算力设备运行过程中电源故障风险。针对端侧AI设备低功耗需求,设备可实现nA级静态漏电精细测量,助力芯片优化低功耗设计,延长智能设备续航时长。设备兼容常温与高低温应力测试,可验证极端工况下电源芯片的性能稳定性,通用适配云端算力集群、AI终端、智能硬件等全场景电源管理芯片测试需求。 国磊处理器测试平台内置128M 向量存储深度,适配 MPU 逻辑功能测试,定位时序违规、运算异常等隐性缺陷。珠海导电阳极丝测试系统工艺

ADC/DAC实现模拟信号与数字信号互相转换,广泛应用工业采集、医疗设备、车载传感,8~32bit高精度型号对同步时序、信噪比SNR、总谐波失真THD指标要求严苛,测试需搭配高速波形发生器AWG与多通道同步测量单元,多工位并行是量产降本主要手段。高精度ADCATE长期被海外厂商垄断,受出口管制影响交付周期拉长至12个月;多数国产通用ATE缺少**波形发生模块,多通道同步采样时序偏移达纳秒级,THD、SNR测试误差超标,出现大量误判漏筛;传统设备同测工位上限16Sites,单颗芯片测试时长久,千万级月出货产线产能瓶颈突出;软件向量存储深度不足,多阶失真度测试中途卡顿;设备不支持多档位增益自动切换,高低幅值信号需分两次上机,大幅增加产线流转成本。国磊专属G97-ADC模数混合测试平台,内置定制化高速AWG与皮秒级同步TMU测量单元,多通道时序同步校准误差<10ps,精细完成32bit以内全规格ADC/DAC失真度、信噪比测试;硬件原生支持32/64Sites并行量产方案,单条产线产能提升2-3倍;超大向量存储空间,支持上万阶谐波失真连续测试;自动增益档位切换,单次插卡完成全幅值参数检测;配套国产自研闭环软件,开放底层接口对接工厂MES系统,数据实时上传溯源。 高性能绝缘电阻测试设备研发国磊GT600:SoC/HBM 车规级全功能 ATE,超大通道、超高并行,面向复杂数模混合大芯片。

低功耗是蓝牙耳机芯片的**竞争力,更长的续航时间、更少次数的充电需求可以典型的蓝牙耳机芯片测试方案既涵盖了逻辑(数字)测试、音频相关(数模混合)测试,也需要对蓝牙(射频)部分进行测试。G97系列ATE测试平台的不同产品上,使用了相同的功能板卡插槽设计,可以按照客户需求实现不同功能板卡组合的配置,亦可以连接业界常用的RF仪器(如罗德施瓦茨/LITEPOINT/NI/KEYSIGHT旗下的电子测试测量仪器仪表),从而可以轻松覆盖以上所有的测试需求。大幅提升用户体验,使用更小的电池也有利于耳机的持续轻量化,从而从体验和产品两方面增强其便携性,并且符合当前绿色电子的环保趋势。在芯片架构上,普遍使用了动态电压频率调整(DVFS)技术,可以根据负载实时调节芯片电压/频率和分段供电、关闭限制模块电源域。因此,通常一颗蓝牙耳机芯片上会出现5V。G97系列ATE平台上,每块DIGI板卡上均自带8个DPS通道和8个GPMU通道,可以为被测芯片提供充足的电源资源。如果在少数多site并行测试场景下,无法满足电源资源数量的需求,那么用户还可以在平台中搭配专门的DPSI板卡(单板64路DPS通道)和MVPI板卡(单板32路中高压VI通道)进一步对电源资源扩展。
边缘AI设备、智能机器人、便携智能终端对MPU处理器的低功耗性能要求严苛,功耗控制直接决定设备续航与散热表现,国磊ATE针对性打造边缘AIMPU多场景动态功耗测试体系。设备可精细分段采集MPU芯片休眠待机、轻度推理、**度运算、任务切换等不同工作状态的动态功耗曲线,量化分析芯片多级电源域的漏电情况、功耗损耗、电压转换效率,多角度评估芯片低功耗控制性能。可精细捕捉瞬时功耗异常、静态漏电超标、负载功耗波动过大等隐性问题,为研发团队优化芯片功耗架构、动态调压算法、电源管理策略提供精细量化数据。同时支持高低温工况下的功耗稳定性测试,验证极端温度环境下芯片功耗漂移情况,保障终端设备全场景续航稳定。适配AI机器人、AR/VR设备、智能穿戴、边缘计算终端等各类轻量化AI设备的主控芯片测试需求,助力终端产品实现低功耗、长续航、高稳定的产品优势。 国磊G97-ADC不同槽位可以插入所有类型的板卡,以极大的系统配置灵活性,充分满足各类ADC芯片的测试需求。

随着AI大模型、云端算力、边缘智能产业高速爆发,AI芯片形成“感知模拟芯片+电源管理芯片+混合信号SoC+堆叠算力芯片”的完整产业链,国磊半导体ATE全系列设备构建了行业***的全链路AI芯片测试矩阵,通用覆盖AI产业链各类主要芯片的测试需求。从前端AI感知端的高精度ADC/DAC信号链芯片、终端低功耗PMIC电源芯片,到中端数模混合AISoC、边缘AI主控芯片,再到云端大算力Chiplet、HBM堆叠算力芯片,国磊全系列ATE均可提供专业化、高精度、量产级的测试方案。设备打通了AI芯片研发验证、晶圆测试、成品量产、可靠性测试全流程,解决了传统测试设备品类单一、无法适配AI全产业链测试的痛点。通过统一的软件平台与硬件架构,实现不同品类AI芯片测试方案快速切换,大幅降低企业设备采购、运维、培训成本。多角度支撑国产AI芯片从技术研发、性能迭代到规模化量产的全流程发展,助力国产AI产业链自主可控、高质量升级。 国磊G97-ADC G97-H(72 槽)高并行大规模量产产线,多 site 并行测试,降低单颗芯片测试成本。广东绝缘电阻测试系统哪家好
国磊G97-ADC G97-L(36 槽)封测厂中批量 FT/CP 测试,多路并行 ADC、工业采集芯片量产。珠海导电阳极丝测试系统工艺
DDI显示驱动芯片负责屏幕Gamma电压、灰阶、Vcom基准电压输出,终端点灯画面质量直接由芯片参数决定,ATE测试需要同步输出多通道高精度模拟电压,联动点灯治具验证画面灰阶、色彩均匀性,多通道电压同步性是测试精细度主要指标。普通模拟ATE多通道电压输出同步性差,通道间压差超标,点灯测试出现色彩失真、灰阶跳变误判;设备与点灯治具配套兼容性差,通讯卡顿频繁中断自动化流程;量产长时间满载运行后模拟通道温漂增大,批量测试参数离散度升高;进口DDI**测试设备价格昂贵,中小屏厂、封测厂采购预算不足;设备故障后海外售后响应周期7-15天,产线长期停机造成订单延误。G97-X200搭载高密度同步模拟输出板卡,多通道电压同步输出误差<,完美匹配Gamma、Vcom高精度测试需求;预留标准化点灯治具通讯接口,一键联动自动点灯校验灰阶、色彩均匀度,全程无人值守;全通道主动恒温散热设计,24小时连续量产温漂稳定可控;杭州总部建立完整备件仓,故障报修后4小时内本地工程师上门检修,比较大限度压缩停机时长;软硬件全流程适配手机OLED、LCD、车载大屏全品类DDI芯片,采购及维保综合成本只进口设备一半,兼顾消费电子量产与车规严苛品质管控标准。珠海导电阳极丝测试系统工艺